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MARIO ANDRES RAFFO JARA

MARIO ANDRES RAFFO JARA

MARIO ANDRES RAFFO JARA

Magister en Ciencias con mencion en Microelectronica, UNIVERSIDAD DE SAO PAULO

Ingeniero Electrónico
DOCENTE CONTRATADO - CONTRATADO
Tiempo parcial por asignaturas (TPA)
Departamento Académico de Ingeniería - Sección Electricidad y Electrónica

Sumilla

Magister en Ciencias, mención Microelectrónica (Universidad de São Paulo). Ingeniero Electrónico (PUCP), CIP 123736. Diplomado en Diseño de Circuitos Integrados Digitales en el CI-Brasil. Conicimientos en: -Diseño Digital en FPGA / ASIC. -Lenguajes de Programación: C, C++ -Lenguajes de Descripción de Hardware: VHDL / Verilog. -Lenguajes de Verificación: SystemVerilog, SystemC -FPGAs de las compañías Altera: Cyclone y Stratix; de Xilinx: Virtex, Spartan. -Herramientas de Altera, Xilinx y Mentor: Quartus, ISE y ModelSIM -Herramientas de Cadence para diseño de Circuitos Integrados Digitales. -Herramientas de Spice Opus y Tanner LEdit -Herramientas Matlab y LabVIEW Registro DINA: https://dina.concytec.gob.pe/appDirectorioCTI/VerDatosInvestigador.do?id_investigador=2161

Correo electrónico
  mraffo@pucp.edu.pe

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Artículos en memoria o anales de congreso (16) | Artículos en revista (2)
FLORES, D. A.; RAFFO, M. A.; YLLAHUAMAN, K. T.; BALCAZAR GUERRERO, M.(2021). Remote Laboratory for Teaching Digital Design using a VPN and embedded system. En 2021 IEEE XXVIII International Conference on Electronics, Electrical Engineering and Computing (INTERCON). IEEE. Recuperado de: https://ieeexplore.ieee.org/document/9532871
CHAUDHRY, H.; RAFFO, M. A.; SILVA, C. B.; VILLEGAS, E. C.(2019). A Dependency-Free Real-Time UHD Architecture for the Initial Stage of HEVC Motion Estimation. En LASCAS. (pp. 157 - 160). IEEE. Recuperado de: https://ieeexplore.ieee.org/document/8667555
PLASENCIA, F. P.; MITACC, E. M.; RAFFO, M. A.; SILVA, C. B.(2019). A Flexible UVM-Based Verification Framework Reusable with Avalon, AHB, AXI and Wishbone Bus Interfaces for an AES Encryption Module. En 2019 IEEE Latin American Test Symposium (LATS). IEEE. Recuperado de: https://ieeexplore.ieee.org/document/8704549
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