GÁLVEZ, G. A. F. J.(2010). Bandgap engineering of the amorphous wide bandgap semiconductor (SiC)1-x(AlN)x doped with terbium and its optical emission properties. MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-ADVANCED FUNCTIONAL SOLID-STATE MATERIALS. Volumen: 174. (pp. 114 - 118). Recuperado de: http://dx.doi.org/10.1016/j.mseb.2010.03.033
WEINGÄRTNER, R.; GUERRA, J. A.; Erlenbach, O.; GÁLVEZ, G. A. F.; DE ZELA, F. A.; Winnacker, A.(2010). Bandgap engineering of the amorphous wide bandgap semiconductor (SiC)1-x(AlN)x doped with terbium and its optical emission properties. Materials science and engineering. Volumen: 174. (pp. 114 - 118). Recuperado de: http://
PIZARRO, C. A.; BALDWIN, G. E.; GALVEZ, G. A. F. J.(2008). Integración de las técnicas de diseño y manufactura de lentes, manufactura de óptica de precisión con las de diseño y evaloración de películas delgadas para el desarrollo de elementos ópticos..
PIZARRO, C. A.; GALVEZ, G. A. F. J.; BALDWIN, G. E.(2007). Desarrollo de un sistema de control automático del proceso de manufactura de filtros interferenciales en el atlo vacío para su uso en la industria óptica. En la manufactura de filtros interferenciales se emplea dos principales temas de conocimiento: la tecnología de vacío y el crecimiento de capas delgadas. La calidad de un filtro se basa en los materiales usados y el número de capas..
GALVEZ, G. A. F. J.(2004). Titanium dioxide thin films: Refractive index variation as a function of the deposition rate. Proc. SPIE int. Soc. opt. Eng. Volumen: 4. (pp. 14765 - 14769).
GALVEZ, G. A. F. J.(2001). Physical effects of evaporated materials in thin films and emission patterns .
